УCЛУГИ: Исследование образцов методом сканирующей электронной микроскопии высокого разрешения. Исследование образцов методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Исследование образцов методом атомно-силовой микроскопии. Исследование образцов методом лазерной конфокальной микроскопии.
КОНТАКТЫ: Управление инновационного развития КФУ, 8(843)233-74-31
Реестр оборудования и услуг
ВОЗМОЖНОСТИ: Шлифовка и полировка твердых образцов
ВОЗМОЖНОСТИ: Станок предназначен для подготовки металлургических и петрографических материалов к анализу микроструктуры.
ВОЗМОЖНОСТИ: Напыление тонкого токопроводящего слоя золотом, углеродом, хромом, золото-палладиевым сплавом.
ВОЗМОЖНОСТИ: Полировка образца до шероховатости 0,05 мкм.
ВОЗМОЖНОСТИ: Резка образцов любой твердости с точностью до 10 мкм
ВОЗМОЖНОСТИ: Получение ультратонких срезов объектов различной природы для исследования в просвечивающем электронном микроскопе.
ВОЗМОЖНОСТИ: Атомно-силовая микроскопия. Магнитно-силовая микроскопия. Атомно-силовая спектроскопия, в том числе картирование упругих свойств поверхности. Адгезионное картирование поверхности. Режим работы при максимальных скоростях сканирования (до 2 кадров в секунду). Возможность работы в жидкости.
ВОЗМОЖНОСТИ: Исследование биологических образцов, Геологических аншлифов, гистологических срезов. Возможность проведения анализа в проводящем и отраженном свете.
ВОЗМОЖНОСТИ: Позволяет провести анализ в оптическом и электронном микроскопе при точном позиционировании исследуемых областей.